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Séminaire du 23 avril 2015 Convertir en PDF Version imprimable Suggérer par mail

Jeudi 23 avril 2015 à 14h00 en salle C24

B. Tremblais (XLIM-SIC, Univ. Poitiers)

"Détection et caractérisation de points critiques en traitement d'images".

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Evènements au MIA

Du 16 au 18 Avril 2019

Conférence Internationale Maths Appli. et Evolution 

  IMAME 2019

 

Numéro spécial Sensors in Target Detection (Guest Editor T. Bouwmans)

Call for Papers

 
Numéro spécial Tensor Decomposition for Machine Learning and Signal Processing (Guest Editor T. Bouwmans)

Call for Papers

 
Numéro spécial Multimodal machine learning for human behavior analysis (Guest Editor T. Bouwmans)

Call for Papers

 

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